TESCAN

TESCAN VEGA – SEM analitik untuk karakterisasi rutin material, kontrol kualitas dan aplikasi penelitian pada skala mikron.

  •  Platform analitis yang menggabungkan pencitraan SEM secara efisien dengan analisis komposisi unsur dalam single GUI. Sepenuhnya terintegrasi dengan Essence ™ EDS
  • Optimal dalam pencitraan dan analisis berkat In-flight Beam Tracing ™.
  • Sistem Navigasi SEM yang mudah dan presisi pada sampel bahkan pada perbesaran yang sangat rendah berkat desain Wide Field Optics ™ yang unik
  • Software modular Essence ™ yang intuitive
  • Keamanan utama dari detektor yang dipasang di chamber ketika bergerak dengan detectors -Essence™ 3D Collision model.
  • SingleVac ™ sebagai fitur standar untuk pengamatan charging and beam-sensitive samples
  • Penggunaanya ramah lingkungan dan ekonomis berkat vacuum buffer yang secara signifikan mengurangi waktu putar pompa vakum

 

 TSCAN VEGA compact-Compact analytical SEM karakterisasi bahan rutin, kontrol kualitas, dan aplikasi penelitian pada skala mikron.

  •  Solusi analitik dengan harga seimbang -  untuk aplikasi fundamental pada skala mikron
  • SE, 4Q BSE dan opsional Essence ™ EDS tersedia untuk topografi, material contrast, dan analisis unsur
  • Dilengkapi dengan perangkat lunak Essence ™ dengan semua fitur standar
  • Ukuran chamber dan gerakan stage dioptimalkan untuk mengakomodasi semua sampel.

 

 

TESCAN MIRA- SEM dengan resolusi tinggi untuk karakterisasi bahan, penelitian, dan aplikasi kontrol kualitas rutin pada skala sub-mikron.

  •  Platform analitis yang menggabungkan pencitraan SEM secara efisien dengan analisis komposisi unsur dalam single GUI. Sepenuhnya terintegrasi dengan Essence ™ EDS
  • Optimum dalam pencitraan optimal dan analisis secara langsung berkat In-flight Beam Tracing ™.
  • Navigasi SEM yang mudah dan presisi pada sampel saat pembesaran berkat desain Wide Field Optics ™ yang unik
  • Software Perangkat lunak Essence ™ modular yang intuitive
  • Keamanan utama dari detektor yang dipasang di chamber ketika bergerak dengan detectors -Essence™ 3D Collision model.
  • SingleVac ™ sebagai fitur standar untuk pengamatan charging and beam-sensitive samples.
  • Tersedia opsional detektor in-column SE and BSE, termasuk Beam Deceleration Technology untuk meningkatkan performa pencitraan pada kecepatan tegangan yang lebih rendah.

 

Nanopartikel TiO2 dapat dicitrakan dan diukur secara efisien menggunakan TESCAN MIRA dengan opsional detektor In-Beam SE. Aplikasi ini dapat membantu Laboratorium Quality Analysis untuk mengontrol proses produksi.

 

 

 

TESCAN VEGA- Analytical SEM for routine materials characterization, quality control and research applications at the micron scale.

  • Analytical platform which efficiently combines SEM imaging with elemental composition analysis in single GUI using Fully integrated Essence™ EDS
  • Optimum imaging and analytical conditions immediately available thanks to In-flight Beam Tracing™.
  • Effortless and precise SEM navigation on the sample at very low magnifications thanks to the unique Wide Field Optics™ design
  • Intuitive and modular Essence™ software
  • Ultimate safety of the chamber mounted detectors when moving with the detectors -Essence™ 3D Collision model.
  • SingleVac™ as a standard feature for observation of charging and beam-sensitive samples.
  • Ecological and economic in use thanks to vacuum buffer which significantly reduce of vacuum rotary pump run-time

 

 

 TSCAN VEGA compact-Compact analytical SEM for routine materials characterization, quality control and research applications at the micron scale.

  • Price–performance balanced analytical solution for fundamental applications at the micron scale
  • SE, 4Q BSE and optional Essence™ EDS available for topographic, material contrast and elemental analysis
  • Featured with Essence™ software with all standard features
  • Chamber size and stage movement are optimized to accommodate all regular samples.

 

 

TESCAN MIRA-High-Resolution Analytical SEM for routine materials characterization, research and quality control applications at a sub-micron scale.

  • Analytical platform which efficiently combines SEM imaging with elemental composition analysis in single GUI using Fully integrated Essence™ EDS
  • Optimum imaging and analytical conditions immediately available thanks to In-flight Beam Tracing™.
  • Effortless and precise SEM navigation on the sample at magnification thanks to the unique Wide Field Optics™ design
  • Intuitive and modular Essence™ software
  • Ultimate safety of the chamber mounted detectors when moving with the detectors -Essence™ 3D Collision model.
  • SingleVac™ as a standard feature for observation of charging and beam-sensitive samples.
  • Optional in-column SE and BSE detectors are available, including Beam Deceleration Technology to enhance imaging performance at lower accelerating voltages.

TiO2 nanoparticles can be efficiently imaged and measured using MIRA with optional In-Beam SE detector. This evaluation can help in Quality Analysis Labs to control production process.

 

BelajarCepat.Com