TESCAN VEGA untuk Ilmu Material (Material Science)
SEM analitik untuk karakterisasi material rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron.
Scanning Electron Microscope (SEM) generasi ke-4 TESCAN VEGA dengan sumber elektron filamen tungsten menggabungkan pencitraan SEM dan analisis komposisi unsur langsung dalam satu jendela software TESCAN Essence™.
Kombinasi ini secara signifikan menyederhanakan perolehan data morfologi dan unsur dari sampel, menjadikan VEGA SEM sebagai solusi analitik yang efisien untuk pemeriksaan bahan rutin dalam kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan laboratorium penelitian.
SEM analitik untuk karakterisasi material rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron.
Scanning Electron Microscope (SEM) generasi ke-4 TESCAN VEGA dengan sumber elektron filamen tungsten menggabungkan pencitraan SEM dan analisis komposisi unsur langsung dalam satu jendela software TESCAN Essence™.
Kombinasi ini secara signifikan menyederhanakan perolehan data morfologi dan unsur dari sampel, menjadikan VEGA SEM sebagai solusi analitik yang efisien untuk pemeriksaan bahan rutin dalam kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan laboratorium penelitian.
Manfaat Utama SEM TESCAN VEGA untuk Ilmu Material
- Platform analitik menampilkan TESCAN Essence™ EDS yang terintegrasi penuh, yang menggabungkan pencitraan SEM secara efisien dengan analisis komposisi unsur dalam satu jendela perangkat lunak Essence™.
- Pencitraan optimal dan kondisi analitik segera tersedia berkat desain optik tanpa apertur unik TESCAN yang didukung oleh In-flight Beam Tracing™.
- Navigasi SEM yang mudah dan tepat pada sampel pada perbesaran serendah 2x tanpa memerlukan kamera navigasi optik tambahan karena desain Wide Field Optics™ yang unik.
- Mode SingleVac™ sebagai fitur standar untuk mengamati pengisian (charging) dan sampel peka cahaya.
- Perangkat lunak Essence™ yang intuitif dan modular dirancang untuk pengoperasian yang mudah tanpa memperdulikan tingkat pengalaman pengguna.
- Keamanan tertinggi dari detektor yang dipasang di chamber saat stage dan sampel bergerak dijamin dengan model Essence™ 3D Collision.
- Opsional vakum buffer secara signifikan mengurangi waktu kerja pompa rotari vakum untuk memberikan manfaat ekologi dan ekonomi.
- Platform analitik modular yang secara opsional dapat dilengkapi dengan pilihan terluas dari detektor yang terintegrasi penuh (misalnya CL, BSE berpendingin air, atau spektrometer RAMAN).
Fitur SEM TESCAN VEGA untuk Ilmu Material
Peta elemen EDS dari plester kuno yang ditangkap dengan Essence™ EDS
Butir dalam busa logam
Penampang bola solder yang dipoles secara mekanis
Pengamatan bahan pengisi daya dalam mode SingleVac – keramik (detektor BSE 4Q – mode Warna)
Porosity of a ceramic
Partikel ZnP dalam substrat Al
Fraktur ulet spesimen logam setelah uji Sharpy V dicitrakan pada 20 keV dengan detektor SE
Adhesi lapisan semprotan termal berdasarkan partikel keras yang dicampur dengan matriks logam yang dicitrakan pada 30 keV dengan detektor BSE
Kristal yang tumbuh di permukaan bilah turbin dari superalloy Ni-base setelah terpapar kondisi kerja pada suhu tinggi (dicitrakan pada 10 keV dengan detektor SE)
Struktur mikro paduan AlCuPbMg yang mengandung butiran fase alfa dengan endapan kaya Cu terlihat dicitrakan pada 7 keV dengan detektor BSE
Informasi Lebih Lanjut
Dapatkan lebih banyak informasi teknis untuk Scanning Electron Microscope (SEM) untuk Ilmu Material di sini!
