TESCAN CLARA untuk Ilmu Material (Materials Science)
SEM UHR analitik bebas lapangan untuk karakterisasi material pada skala nano.
Sistem TESCAN CLARA UHR-SEM adalah mikroskop elektron pemindaian (SEM) yang memenuhi permintaan akan gambar berkualitas tinggi dan analisis mikro yang secara teratur muncul di berbagai bidang penelitian dan teknologi.
TESCAN CLARA didukung oleh teknologi kolom TESCAN BrightBeam™ SEM, yang memanfaatkan objektif elektrostatis-magnetik terintegrasi. Ini menawarkan kemampuan beresolusi sangat tinggi pada voltase akselerasi rendah dengan gaya bebas medan—fitur penting untuk pencitraan tanpa kompromi dari semua jenis sampel, misalnya yang bersifat magnetis.
TESCAN CLARA dilengkapi dengan sistem multidetektor dalam kolom khusus yang memungkinkan pengumpulan elektron yang lebih baik sesuai sudut lepas-landas dan energinya. Ini mengarah pada data topografi dan komposisi yang optimal dari sampel. Dilengkapi dengan jaringan penyaringan, multidetektor menyediakan akses untuk memfilter energi BSE dan SE secara selektif dan meningkatkan kontras material dan kemampuan untuk beralih langsung antara sinyal BSE dan SE.
Detektor aksial, yang merupakan detektor kolom kedua, telah dikembangkan untuk mengumpulkan sinyal SE pada efisiensi optimal dan tegangan pendaratan apa pun tanpa kehilangan sinyal SE yang nyata. Ini menjadikan pengamatan UHR-SE sangat sederhana dan teratur, bahkan pada voltase pendaratan rendah.
Selain itu, TESCAN CLARA dapat dilengkapi dengan dua detektor In-chamber dan detektor ET sebagai standar, untuk menawarkan kontras sinyal dan topografi yang sangat tinggi dari sampel. Detektor BSE energi rendah opsional yang dapat ditarik mengumpulkan BSE sudut lebar dan menawarkan kontras material tinggi, bahkan pada voltase akselerasi rendah.
TESCAN CLARA adalah instrumen yang benar-benar fleksibel dan sempurna untuk karakterisasi bahan nano, kontrol kualitas yang ketat di industri manufaktur kelas atas, serta untuk Penelitian dan Pengembangan.
SEM UHR analitik bebas lapangan untuk karakterisasi material pada skala nano.
Sistem TESCAN CLARA UHR-SEM adalah mikroskop elektron pemindaian (SEM) yang memenuhi permintaan akan gambar berkualitas tinggi dan analisis mikro yang secara teratur muncul di berbagai bidang penelitian dan teknologi.
TESCAN CLARA didukung oleh teknologi kolom TESCAN BrightBeam™ SEM, yang memanfaatkan objektif elektrostatis-magnetik terintegrasi. Ini menawarkan kemampuan beresolusi sangat tinggi pada voltase akselerasi rendah dengan gaya bebas medan—fitur penting untuk pencitraan tanpa kompromi dari semua jenis sampel, misalnya yang bersifat magnetis.
TESCAN CLARA dilengkapi dengan sistem multidetektor dalam kolom khusus yang memungkinkan pengumpulan elektron yang lebih baik sesuai sudut lepas-landas dan energinya. Ini mengarah pada data topografi dan komposisi yang optimal dari sampel. Dilengkapi dengan jaringan penyaringan, multidetektor menyediakan akses untuk memfilter energi BSE dan SE secara selektif dan meningkatkan kontras material dan kemampuan untuk beralih langsung antara sinyal BSE dan SE.
Detektor aksial, yang merupakan detektor kolom kedua, telah dikembangkan untuk mengumpulkan sinyal SE pada efisiensi optimal dan tegangan pendaratan apa pun tanpa kehilangan sinyal SE yang nyata. Ini menjadikan pengamatan UHR-SE sangat sederhana dan teratur, bahkan pada voltase pendaratan rendah.
Selain itu, TESCAN CLARA dapat dilengkapi dengan dua detektor In-chamber dan detektor ET sebagai standar, untuk menawarkan kontras sinyal dan topografi yang sangat tinggi dari sampel. Detektor BSE energi rendah opsional yang dapat ditarik mengumpulkan BSE sudut lebar dan menawarkan kontras material tinggi, bahkan pada voltase akselerasi rendah.
TESCAN CLARA adalah instrumen yang benar-benar fleksibel dan sempurna untuk karakterisasi bahan nano, kontrol kualitas yang ketat di industri manufaktur kelas atas, serta untuk Penelitian dan Pengembangan.
Manfaat Utama SEM TESCAN CLARA untuk Ilmu Material
- Karakterisasi tanpa kompromi dari semua jenis material pada skala nano
- Ideal untuk karakterisasi material pada energi sinar rendah untuk topografi permukaan maksimum
- Pencitraan luar biasa dari sampel yang sensitif terhadap sinar dan non-konduktif
- Penyiapan berkas elektron sepenuhnya otomatis – kondisi pencitraan optimal dijamin oleh In-Flight Beam Tracing™
- Navigasi SEM langsung yang intuitif pada sampel dengan perbesaran serendah 2× tanpa memerlukan kamera navigasi optik ekstra berkat desain Wide Field Optics™
- Desain Multidetektor In-Beam yang unik memungkinkan deteksi BSE selektif sudut dan energi
- Platform modular perangkat lunak intuitif yang dirancang untuk pengoperasian yang mudah terlepas dari tingkat keahlian pengguna
Fitur SEM TESCAN CLARA untuk Ilmu Material
Ti Nanotubes
Emas nanopori pada Si
Jarak interlamellar dalam perlite dari cast iron
Informasi Lebih Lanjut
Dapatkan lebih banyak informasi teknis untuk Scanning Electron Microscope (SEM) untuk Ilmu Material di sini!
