TESCAN MIRA untuk Ilmu Material (Materials Science)
SEM (Scanning Electrone Microscope) analitis beresolusi tinggi untuk karakterisasi material yang rutin, penelitian, dan aplikasi kontrol kualitas pada skala sub-mikron.
Scanning Electron Microscope (SEM) generasi ke-4 TESCAN MIRA dengan sumber emisi elektron FEG Schottky menggabungkan pencitraan SEM dan analisis komposisi unsur langsung dalam satu jendela perangkat lunak Essence™ TESCAN.
Kombinasi ini secara signifikan menyederhanakan perolehan data morfologi dan unsur dari sampel, menjadikan MIRA SEM solusi analitik yang efisien untuk pemeriksaan bahan rutin dalam kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan laboratorium penelitian.
SEM (Scanning Electrone Microscope) analitis beresolusi tinggi untuk karakterisasi material yang rutin, penelitian, dan aplikasi kontrol kualitas pada skala sub-mikron.
Scanning Electron Microscope (SEM) generasi ke-4 TESCAN MIRA dengan sumber emisi elektron FEG Schottky menggabungkan pencitraan SEM dan analisis komposisi unsur langsung dalam satu jendela perangkat lunak Essence™ TESCAN.
Kombinasi ini secara signifikan menyederhanakan perolehan data morfologi dan unsur dari sampel, menjadikan MIRA SEM solusi analitik yang efisien untuk pemeriksaan bahan rutin dalam kontrol kualitas, analisis kegagalan, dan laboratorium penelitian.
Manfaat Utama SEM TESCAN MIRA untuk Ilmu Material
Platform analitik menampilkan TESCAN Essence™ EDS yang terintegrasi penuh, yang menggabungkan pencitraan SEM secara efisien dengan analisis komposisi unsur dalam satu jendela perangkat lunak Essence™.
Pencitraan optimal dan kondisi analitik segera tersedia berkat desain optik tanpa apertur unik TESCAN yang didukung oleh In-flight Beam Tracing™.
Navigasi SEM yang mudah dan tepat pada sampel pada perbesaran serendah 2x tanpa memerlukan kamera navigasi optik tambahan karena desain Wide Field Optics™ yang unik.
Mode SingleVac™ sebagai fitur standar untuk mengamati pengisian (charging) dan sampel peka cahaya.
Perangkat lunak Essence™ yang intuitif dan modular dirancang untuk pengoperasian yang mudah tanpa memperdulikan tingkat pengalaman pengguna.
Keamanan tertinggi dari detektor yang dipasang di chamber saat stage dan sampel bergerak dijamin dengan model Essence™ 3D Collision.
Opsional Detektor in-column SE dan BSE tersedia, termasuk Teknologi Deselerasi Sinar untuk meningkatkan kinerja pencitraan pada voltase percepatan yang lebih rendah.
Platform analitik modular yang secara opsional dapat dilengkapi dengan pilihan luas detektor terintegrasi secara penuh (misalnya CL, BSE berpendingin air, atau spektrometer RAMAN).
Fitur SEM TESCAN MIRA untuk Ilmu Material
Lapisan NiP yang korosfi dicitrakan pada 3 keV dengan detektor SE(BDM).
Essence EDS – pemetaan di jendela SEM langsung.
Mikroinklusi dicitrakan dengan detektor LE In-Beam BSE pada 3 keV.
Nanopartikel TiO2 dicitrakan dengan detektor SE pada 10 keV.
Informasi Lebih Lanjut
Informasi Lebih Lanjut
Dapatkan lebih banyak informasi teknis untuk Scanning Electron Microscope (SEM) untuk Ilmu Material di sini!
