TESCAN MAGNA untuk Ilmu Material (Materials Science)
UHR SEM untuk karakterisasi nanomaterial pada skala sub-nanometer.
TESCAN MAGNA adalah rangkuman resolusi Ultra-tinggi dan pencitraan kontras tinggi dari material generasi berikutnya dengan deteksi In-Beam TriBE™ dan TriSE™ yang unik untuk karakterisasi nano tingkat lanjut.
Yakinlah bahwa pencitraan optimal dan kondisi analitik dijamin oleh TESCAN In-Flight Beam Tracing™.
MAGNA unik untuk deteksi TriSE™, deteksi TriBE™, penyaringan energi selektif BSE, studi skala nanometer yang presisi (SEM/STEM) dari struktur material dan pencitraan UHR dari bagian otak ultra-tipis halus dengan elektron backscattered keV rendah.
UHR SEM untuk karakterisasi nanomaterial pada skala sub-nanometer.
TESCAN MAGNA adalah rangkuman resolusi Ultra-tinggi dan pencitraan kontras tinggi dari material generasi berikutnya dengan deteksi In-Beam TriBE™ dan TriSE™ yang unik untuk karakterisasi nano tingkat lanjut.
Yakinlah bahwa pencitraan optimal dan kondisi analitik dijamin oleh TESCAN In-Flight Beam Tracing™.
MAGNA unik untuk deteksi TriSE™, deteksi TriBE™, penyaringan energi selektif BSE, studi skala nanometer yang presisi (SEM/STEM) dari struktur material dan pencitraan UHR dari bagian otak ultra-tipis halus dengan elektron backscattered keV rendah.
Manfaat Utama SEM TESCAN MAGNA untuk Ilmu Material
Pencitraan beresolusi tinggi dan kontras tinggi dari bahan nextgen (misalnya struktur katalis, tabung nano, partikel nano, dan struktur berskala nano lainnya)
Platform luar biasa yang cocok untuk metrologi SEM/STEM pada skala sub-nanometer
Penyetelan sinar elektron yang cepat – kondisi pencitraan yang optimal dijamin oleh In-Flight Beam Tracing™
Sistem multi-detektor TriBE™ dan TriSE™ untuk karakterisasi sampel nano
Platform modular perangkat lunak intuitif yang dirancang untuk pengoperasian yang mudah terlepas dari tingkat keahlian pengguna
Fitur SEM TESCAN MAGNA untuk Ilmu Material
Black Si dengan partikel nano Au
Black Si dengan partikel nano Au
Gambar STEM silika mesopori
Informasi Lebih Lanjut
Dapatkan lebih banyak informasi teknis untuk Scanning Electron Microscope (SEM) untuk Ilmu Material di sini!
