TESCAN MAGNA untuk Ilmu Material (Materials Science)
UHR SEM untuk karakterisasi nanomaterial pada skala sub-nanometer. TESCAN MAGNA adalah rangkuman resolusi Ultra-tinggi dan pencitraan kontras tinggi dari material generasi berikutnya...
Solusi SEM untuk Sains Material (Materials Science)
Scanning Electron Microscopy telah menjadi alat penting untuk ilmu dan teknik material.
TESCAN menawarkan portofolio sistem turnkey yang diperluas, disesuaikan untuk membantu para ilmuwan dan peneliti dalam ilmu material membuat kemajuan dan mencapai tujuan mereka. Berbagai instrumen khusus dan inovatif TESCAN adalah bagian dari komitmen kuat kami untuk mendorong kemajuan ilmu material.
Temukan Solusi SEM untuk Ilmu Material di bawah ini :
TESCAN CLARA untuk Ilmu Material (Materials Science)
SEM UHR analitik bebas lapangan untuk karakterisasi material pada skala nano. Sistem TESCAN CLARA UHR-SEM adalah mikroskop elektron pemindaian (SEM) yang memenuhi...
TESCAN MIRA untuk Ilmu Material (Materials Science)
SEM (Scanning Electrone Microscope) analitis beresolusi tinggi untuk karakterisasi material yang rutin, penelitian, dan aplikasi kontrol kualitas pada skala sub-mikron. Scanning Electron Microscope...
TESCAN VEGA untuk Ilmu Material (Material Science)
SEM analitik untuk karakterisasi material rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron. Scanning Electron Microscope (SEM) generasi ke-4 TESCAN VEGA dengan sumber...
TESCAN VEGA Compact for Materials Science
Compact analitik SEM (Scanning Electron Microscope) untuk karakterisasi bahan rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron. Membuktikan bahwa dilevel awal tidak...