Beranda » TESCAN » Solusi SEM untuk Sains Material (Materials Science) » TESCAN VEGA Compact for Materials Science

TESCAN VEGA Compact for Materials Science

VEGA compact SEMCompact analitik SEM (Scanning Electron Microscope) untuk karakterisasi bahan rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron.

Membuktikan bahwa dilevel awal tidak harus mengorbankan hasil, TESCAN VEGA Compact menawarkan solusi SEM analitik lengkap untuk laboratorium yang memprioritaskan pengoperasian yang mudah dan waktu yang cepat untuk analisis gambar dan komposisi (EDS) berkualitas tinggi.

TESCAN VEGA Compact menampilkan konfigurasi yang disederhanakan yang hanya menyertakan komponen paling penting untuk menangkap data morfologi dan elemen secara efisien, memungkinkan TESCAN VEGA Compact menempati footprint yang lebih kecil di lab. Dengan kemampuan untuk mengakomodasi sampel berukuran besar yang umum di industri, ilmu material, dan semikonduktor — seperti penampang metalurgi, struktur yang dilas, atau papan sirkuit tercetak — TESCAN VEGA Compact adalah pilihan tepat tidak hanya untuk inspeksi material Anda saat ini, kualitas kebutuhan analisis kontrol dan kegagalan, tetapi juga kebutuhan analitis Anda di masa mendatang.

TESCAN VEGA Compact beroperasi dari antarmuka pengguna grafis berfitur lengkap TESCAN sendiri, TESCAN Essence™, yang merupakan jantung dari semua instrumen TESCAN SEM dan FIB-SEM. Operator yang belajar di TESCAN VEGA Compact dapat dengan mudah melakukan transisi ke mikroskop TESCAN lain atau mengadaptasi beberapa fitur lingkungan perangkat lunak Essence agar sesuai dengan GUI instrumen lain di lab.

VEGA compact SEM

Compact analitik SEM (Scanning Electron Microscope) untuk karakterisasi bahan rutin, penelitian dan aplikasi kontrol kualitas pada skala mikron.

Membuktikan bahwa dilevel awal tidak harus mengorbankan hasil, TESCAN VEGA Compact menawarkan solusi SEM analitik lengkap untuk laboratorium yang memprioritaskan pengoperasian yang mudah dan waktu yang cepat untuk analisis gambar dan komposisi (EDS) berkualitas tinggi.

TESCAN VEGA Compact menampilkan konfigurasi yang disederhanakan yang hanya menyertakan komponen paling penting untuk menangkap data morfologi dan elemen secara efisien, memungkinkan TESCAN VEGA Compact menempati footprint yang lebih kecil di lab. Dengan kemampuan untuk mengakomodasi sampel berukuran besar yang umum di industri, ilmu material, dan semikonduktor — seperti penampang metalurgi, struktur yang dilas, atau papan sirkuit tercetak — TESCAN VEGA Compact adalah pilihan tepat tidak hanya untuk inspeksi material Anda saat ini, kualitas kebutuhan analisis kontrol dan kegagalan, tetapi juga kebutuhan analitis Anda di masa mendatang.

TESCAN VEGA Compact beroperasi dari antarmuka pengguna grafis berfitur lengkap TESCAN sendiri, TESCAN Essence™, yang merupakan jantung dari semua instrumen TESCAN SEM dan FIB-SEM. Operator yang belajar di TESCAN VEGA Compact dapat dengan mudah melakukan transisi ke mikroskop TESCAN lain atau mengadaptasi beberapa fitur lingkungan perangkat lunak Essence agar sesuai dengan GUI instrumen lain di lab.

Manfaat Utama SEM TESCAN VEGA untuk Ilmu Material

  • Proses sampel lebih cepat dengan ruang besar VEGA Compact, yang menawarkan ruang untuk menganalisis banyak sampel atau sampel besar, serta vakum tinggi untuk hasil EDS yang andal
  • Dapatkan data komposisi dengan mudah dan langsung hubungkan dengan gambar SEM menggunakan fitur hamparan EDS Essence™ opsional dan terintegrasi penuh dari TESCAN
  • Pengaturan parameter pancaran yang cepat untuk pencitraan optimal dan kondisi analitik dengan In-Flight Beam Tracing™ dari TESCAN
  • Menavigasi dengan mudah dan tepat – dengan perbesaran serendah 2x – dengan mode Wide Field Optics™ TESCAN yang unik, yang menghilangkan kebutuhan akan kamera optik tambahan
  • Pindahkan sampel dengan percaya diri dan hindari tabrakan menggunakan model tabrakan 3D langsung TESCAN yang unik yang mereplikasi ukuran dan geometri sampel dan detektor di dalam interior ruangan
  • Sesuaikan GUI agar sesuai dengan tingkat pengalaman pengguna dan aplikasi untuk operasi intuitif perangkat lunak kontrol mikroskop Essence™ TESCAN
  • Hemat biaya dan kurangi jejak ekologis Anda menggunakan buffer vakum opsional TESCAN yang secara signifikan mengurangi waktu kerja pompa rotari vakum 
VEGA compact Scanning Electron Microscope

Fitur SEM TESCAN VEGA untuk Ilmu Material

Ringkasan Gambar kartu grafis diambil menggunakan Wide-Field Mode™

Permukaan logam yang retak ditangkap menggunakan detektor SE pada tegangan percepatan 5 keV

Detail permukaan keramik yang retak ditangkap dengan detektor SE pada tegangan percepatan 10 keV

Distribusi Si (biru), Cu (ungu), dan C (hijau) dalam plester kuno yang diidentifikasi oleh Essence™ EDS di jendela pemindaian langsung VEGA Compact SEM

Struktur mikro paduan AlCuPbMg yang mengandung butiran fase alfa dengan endapan kaya Cu terlihat dicitrakan pada 7 keV dengan detektor BSE

Kristal yang tumbuh di permukaan bilah turbin dari superalloy Ni-base setelah terpapar kondisi kerja pada suhu tinggi (dicitrakan pada 10 keV dengan detektor SE)

Adhesi lapisan semprotan termal berdasarkan partikel keras yang dicampur dengan matriks logam yang dicitrakan pada 30 keV dengan detektor BSE

Fraktur ulet spesimen logam setelah uji Sharpy V dicitrakan pada 20 keV dengan detektor SE

SEM VEGA Compact alternatif untuk sistem meja (tabletop)

VEGA Compact menawarkan kemudahan penggunaan dan rasio harga-kinerja yang luar biasa yang menjadikannya pilihan terbaik saat mempertimbangkan alternatif sistem meja

VEGA Compact kaya akan fitur yang memberikan nilai bagus untuk alur kerja karakterisasi sampel umum. Keuntungan menjadi lebih jelas saat membandingkan fitur pencitraan dan analisis VEGA Compact dengan sistem meja. Untuk perbandingan yang lebih detail.

Fitur utama yang dihargai dalam karakterisasi material SEM TableTop VEGA Compact

Ukuran ruang yang lebih besar dengan tahap motorisasi penuh kompusentris 5-sumbu

Manfaatkan lebih banyak pilihan untuk menyelidiki sampel dengan berbagai ukuran, bentuk, dan jenis.

Chamber dan stage yang lebih besar dapat menangani beberapa stub standar; beberapa sampel penampang yang dipoles, atau sampel kompleks seperti bagian yang dilas, dapat disisipkan bersama dan dianalisis tanpa perlu penyesuaian ulang secara manual.

?

Ya

Resolusi tinggi dan perbesaran hingga 1.000.000x

Menginformasikan detail hingga kisaran beberapa nanometer dan mendapatkan kualitas gambar maksimum dengan rentang pembesaran yang akan memenuhi kebutuhan karakterisasi sampel Anda saat ini dan di masa mendatang.

?

Ya

Mempercepat voltase hingga 200 eV dan hingga 30 keV

Mengungkapkan detail topografi terbaik dengan menggunakan tegangan akselerasi rendah, yang menjamin informasi permukaan maksimum dari sampel Anda.

Atau mendapatkan  analisis EDS yang akurat untuk elemen berat yang membutuhkan voltase percepatan 30 keV.

Kisaran tegangan yang luas berarti lebih banyak kebebasan dalam karakterisasi.

?

Ya

Dua detektor standar: SE dan empat kuadran BSE

Mendapatkan informasi kontras topografi dan unsur yang tepat dari satu area pada sampel Anda dengan pemindaian akuisisi menggunakan deteksi elektron sekunder (SE) dan empat kuadran backscattered electron (BSE) simultan.

?

Ya

? – Beberapa sistem top table mungkin memiliki satu atau dua fitur ini tetapi hanya VEGA COMPACT yang menggabungkan semuanya dalam satu sistem

Informasi Lebih Lanjut

Dapatkan lebih banyak informasi teknis untuk Scanning Electron Microscope (SEM) untuk Ilmu Material di sini!

Bagikan informasi ini:

Posting Serupa